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世纪芯芯片解密须知

红外测温仪克隆案例分析芯片解密

分类：芯片解密技术 | 发布:admin | 查看: | 发表时间:2011-10-20

　红外测温仪是世纪芯在反向工程开发领域的典型产品之一，目前龙人已成功实现了该产品全套克隆及二次开发，积累了产品PCB文件图、原理图、物料清单等全套技术资料，可协助客户进行产品研究开发、维护维修以及直接批量生产。

红外测温仪详细技术指标：

测量范围-30 ～ 500 ℃

精度（假定环温为 23 ℃时）±1 ℃ , 10 ～ 30 ℃ ;±1.5% 或 1.5 ℃取大值 , 其他温度范围

重复精度± 0.5% 或 < ± 1 ° C （ ± 2 ° F）取大值

响应时间<500ms （95 %）

光谱响应6.5 ~ 18u

发射率预设 0.95

环温工作范围0 ～ 50 ℃（ 32 ～ 120 ℉）

相应湿度10 ～ 90%

储存温度-20 ～ 65 ℃（ -13 ～ 158 ℉）

重量尺寸152 x 101 x 38 mm/ 200g

电源9 V 碱性或镍镉电池

电池寿命 / 碱性带激光，照明灯和背景灯开时， 12hrs带激光，照明灯和背景光关闭时， 20hrs

激光（ II 级）

SmartSight 双激光瞄准系统

到目标的典型距离200mm ～ 600mm（8inches to 2 feet）

D ：S

焦点处约为 10 ： 1

温度显示℃或℉可选

显示分辨率0.2 ℃（ 0.5 ℉）

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